GIS中有可能出現(xiàn)的主要絕緣缺陷如圖所示,可以總結(jié)為以下幾個方面。
(1)固定缺陷:不僅包括了位于外殼表面和導體之上的金屬突起,還包括了在固體絕緣的一些微粒,對前者來說,它主要是在制作過程、安裝過程中產(chǎn)生,由于制造不良或擦劃導致的較為尖銳的毛刺。如果工頻狀態(tài)是較為穩(wěn)定的,那么這些缺陷不會發(fā)生擊穿現(xiàn)象,不過,如果是諸如快速暫態(tài)過電壓和沖擊等快速電壓的情況,那么極有可能會發(fā)生擊穿現(xiàn)象;
(2)位于GIS腔體內(nèi),并且能夠進行自由移動的金屬微粒,GIS在制造和裝配以及運行過程中都會產(chǎn)生一定的金屬微粒,這是非常常見的,這些微粒能夠?qū)﹄姾蛇M行一定的積累。如果所處的電壓場是交流的,那么這些微粒就能夠產(chǎn)生移動,不過無論是移動過程,還是放電過程,都是隨機發(fā)生的。這些微粒zui可能發(fā)生放電的情況就是在它們十分靠近高壓導體,不過并沒有發(fā)生接觸,和導體上固定的微粒相比,這種放電的可能性要高出至少10倍;
(3)傳導部分出現(xiàn)了不良的接觸,諸如浮動部件,或者是靜電屏蔽等問題,對于那些浮動或者松動的部件來說,它們極有可能會發(fā)生放電現(xiàn)象,其檢測起來相對比較容易,并且會出現(xiàn)反復的放電;
(4)在生產(chǎn)和制造過程中,絕緣子出現(xiàn)了內(nèi)部空隙或者表面的痕跡,后者是由于實驗閃絡所導致的,也包括了電極表面所存在的粗糙,以及嵌入的一些金屬微粒,不僅如此,由于對金屬電極和環(huán)氧樹脂具有不同的收縮系數(shù),所以也會產(chǎn)生一定的空隙和氣泡。
以上所說的GIS的絕緣體所存在的缺陷,極有可能會發(fā)生局部放電,如果發(fā)生了這種局部放電,那么絕緣材料會被腐蝕,甚至會變成電樹枝,zui終會使整個絕緣體被擊穿。